X射线荧光光谱法测定铜矿石中多元素

样品用低倍稀释在热解石墨坩埚中熔融，将熔珠研磨至小于0.040mm，压片，用铜矿石等国家级标准物质或合成标样进行校准，测定铜矿石中多元素的含量，采用实验系数法(或理论影响系数法)校正吸收-增强效应。

本方法适用于铜矿石及有色金属矿石中多元素的测定。测定的含量范围可按分析要求选择(或组配)相应的标准样品以及选择适当的测量条件相配合，以满足分析的需要。

波长色散X射线荧光光谱仪，端窗Rh靶X光管(3kW以上)。具有校准、校正等功能完善分析软件的计算机系统。

高温熔样炉。

裂解石墨坩埚。

DM-100型多头研磨机。

压片机及压样模具。混合熔剂80%Li+10%Li+10%LiNO，混合均匀。低压聚乙烯。

选择铜矿石与相关的有色金属矿石国家标准物质或高纯元素化合物试剂，按一定比例组合成具有足够含量范围又有一定梯度的标准物质系列。

在标样中选择1～6个分析元素含量适当的标样作仪器漂移校正样品。

称取4.5g(±0.0005g)已于105℃烘干5h以上的混合熔剂、1.5000g(±0.0005g)已于105℃烘干2h的标准物质，置于石墨坩埚中，仔细混匀，放入已升温至600℃的高温炉中，预氧化5min，升温至950℃，熔融20min，期间取出均匀摇动一次，放回再熔融5min。取出，坩埚冷却后，倒出熔珠，将熔珠粉碎，然后再用DM-100型多头研磨机上研磨20min，使其成为颗粒小于40μm的细粉末。不加黏结剂，用低压聚乙烯镶边垫底的方法压成直径Φ32mm，镶边外径Φ40mm的样片。

根据分析要求结合仪器性能选定元素分析线，X射线管电压50kW，管电流50mA，通道光阑直径Φ30mm，试样盒面罩Φ30mm，在真空光路中进行测定。测量条件见表40.8。

表40.8X射线荧光光谱法仪器工作条件(以日本理学3080-E1型仪器为例)

注:Ca使用1/3吸收片测量;TAP是邻苯二酸氢铊晶体，2d=2.57626nm;RX-4是锑化铟晶体，2d=0.74806nm;SC是闪烁计数器;F-PC是流气正比计数器;C是粗准直器(450μm);F是细准直器(150μm)。

根据上述测量条件启动校准标准试样测量。计算各元素分析线净强度(10采用一点法扣除背景，按下式计算分析线净强度I岩石矿物分析第三分册有色、稀有、分散、稀土、贵金属矿石及铀钍矿石分析为分析线谱峰强度，10为分析线背景强度，10主、次量元素按照仪器分析软件程序提供的校准、校正模式，以标准样品标准值与元素分析线净强度代入式(40.4)进行回归，绘制校准校正曲线，共存元素的基体校正选项以标准偏差*小，相关系数在0.98x～0.999为好，求得校准常数a和谱线重叠干扰系数β，以及共存元素基体校正系数α，存入分析文件备用。

岩石矿物分析第三分册有色、稀有、分散、稀土、贵金属矿石及铀钍矿石分析为分析元素i的质量分数;a为校准曲线常数;I为待测元素i的分析线净强度，10为共存元素j对分析元素i的基体校正系数;β为谱线重叠干扰元素k对分析元素i的谱线重叠干扰系数;w为基体校正共存元素含量(或强度);w为重叠干扰元素含量(或强度)。

痕量元素以RhKα康普顿散射线内标法结合经验α系数校正基体校应。有重叠干扰需作重叠干扰校正。测定仪器漂移校正试样，将各元素的分析谱线净强度I

作为漂移校正基准存入计算机。按标准系列制备方法制备待分析试样，并按上述测量条件建立的分析程序对制备好的分析试样中各元素进行测量。

测定仪器漂移校正试样，求出漂移校正系数，由计算机自动进行强度测量及校正、背景扣除、基体效应的校正，仪器漂移校正，*后打印分析结果。

仪器漂移校正系数的计算见下式:

岩石矿物分析第三分册有色、稀有、分散、稀土、贵金属矿石及铀钍矿石分析

为仪器漂移校正系数;I为初次测量仪器漂移校正试样得到的漂移校正基准强度，10为分析试样时测量仪器漂移校正试样测得的净强度，10

仪器漂移的校正公式为:

岩石矿物分析第三分册有色、稀有、分散、稀土、贵金属矿石及铀钍矿石分析为漂移校正后的分析线强度，10为未作漂移校正的分析线强度，10为仪器漂移校正系数。

1)选择熔融法制样，可消除标准样品、人工标样和实测样品之间的矿物学和粒度的差别;但经熔融稀释后，某些痕量元素的灵敏度降低。为了使同一个样片测定样品中所有的主、次和痕量元素，熔融稀释比必须尽量小些。

2)钠、镁可用多层膜分析器测量，具体谱峰与背景的2θ角应予以核定，并应注意锌对钠的重叠干扰与砷对镁的重叠干扰。

3)可根据所用仪器重新核定测量条件和测定下限。